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HS-QD系列-高低温低气压试验箱
Item No.: HS-QD
高低温低气压试验箱是主要用于航空、航天、电子、国防、科研和其它工业部门确定电工的电子科技产品（包括元器件、材料和仪器仪表）。在高低温低气压单项或同时作用下，进行贮存运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
- 产品介绍
- 参数型号
低气压试验箱主要用于航空、航天、信息、电子等领域，确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验，并或同时对试件通电进行电气性能参数的测量，采用整体式组合结构形式，试验箱由位于前部的保温箱体（承压结构）、位于后部的制冷、真空机组和位于试验箱大门上的电器控制器（系统）组成。
参照标准
GB10590-89 低温/低气压试验箱技术条件；
GB15091-89 高温/低气压试验箱技术条件；
GB11159-89 低气压试验箱技术条件；
GB/T2423.25-1992 低温/低气压综合试验箱；
GB/T2423.26-1992 高温/低气压综合试验箱；
GJB150.2-86 低温/低气压（高度）试验；
HS-QD系列-高低温低气压试验箱
Item No.: HS-QD
高低温低气压试验箱是主要用于航空、航天、电子、国防、科研和其它工业部门确定电工的电子科技产品（包括元器件、材料和仪器仪表）。在高低温低气压单项或同时作用下，进行贮存运输可靠性试验，并可同时对试件通电进行电气性能参数的测试。
- 产品介绍
- 参数型号
低气压试验箱主要用于航空、航天、信息、电子等领域，确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验，并或同时对试件通电进行电气性能参数的测量，采用整体式组合结构形式，试验箱由位于前部的保温箱体（承压结构）、位于后部的制冷、真空机组和位于试验箱大门上的电器控制器（系统）组成。
参照标准
GB10590-89 低温/低气压试验箱技术条件；
GB15091-89 高温/低气压试验箱技术条件；
GB11159-89 低气压试验箱技术条件；
GB/T2423.25-1992 低温/低气压综合试验箱；
GB/T2423.26-1992 高温/低气压综合试验箱；
GJB150.2-86 低温/低气压（高度）试验；
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