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磁性元件分析仪WK3260B

磁性元件分析仪WK3260B

Item No.: WK3260B

频率范围 (20Hz - 3MHz) 0.1% 基本量测精确度 DC Bias(直流偏压) 最高可到125A(Option) 内建1Amp DC Bias 多频率自动测试模式 多点DC Bias扫频功能 可直接画出加上Bias时各参数之曲线图.具扫频功能 可接Mesco view, Factory view软件 涵盖各式测量参数 - 包含 Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(质量因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 及 圈数比 可透过IEEE488连线控制

· 频率范围 (20Hz - 3MHz)

· 0.1% 基本量测精确度

· DC Bias(直流偏压) 最高可到125A(Option)

· 内建1Amp DC Bias

· 多频率自动测试模式

· 多点DC Bias扫频功能

· 可直接画出加上Bias时各参数之曲线图.具扫频功能

· 可接Mesco view, Factory view软件

· 涵盖各式测量参数 - 包含 Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(质量因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 及 圈数比

· 可透过IEEE488连线控制


磁性元件分析仪WK3260B

Item No.: WK3260B

频率范围 (20Hz - 3MHz) 0.1% 基本量测精确度 DC Bias(直流偏压) 最高可到125A(Option) 内建1Amp DC Bias 多频率自动测试模式 多点DC Bias扫频功能 可直接画出加上Bias时各参数之曲线图.具扫频功能 可接Mesco view, Factory view软件 涵盖各式测量参数 - 包含 Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(质量因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 及 圈数比 可透过IEEE488连线控制

· 频率范围 (20Hz - 3MHz)

· 0.1% 基本量测精确度

· DC Bias(直流偏压) 最高可到125A(Option)

· 内建1Amp DC Bias

· 多频率自动测试模式

· 多点DC Bias扫频功能

· 可直接画出加上Bias时各参数之曲线图.具扫频功能

· 可接Mesco view, Factory view软件

· 涵盖各式测量参数 - 包含 Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(质量因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 及 圈数比

· 可透过IEEE488连线控制


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