1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
· 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
· LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
· 基本精度±0.08%的高精度测量
· 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
· 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
· LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
· 基本精度±0.08%的高精度测量
· 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量